Drei Münzen im TOF-SIMS Gerät während einer Messung am Forschungszentrum Jülich.

Drei Münzen im TOF-SIMS Gerät während einer Messung am Forschungszentrum Jülich. Im Bild sind links und rechts oben die Enden der zwei Primärionensäulen zu sehen, in der Mitte die Sekundärsäule, welche die gebildeten Ionen aus dem Probenraum extrahiert und zum Analysator weiterleitet. Anhand der Größe der Münzen (Durchmesser etwa 2 cm) kann man die Größe der Apparaturen erahnen. Alle drei Säulen enden nur wenige Millimeter über der Probe, um eine möglichst hohe Ortsauflösung zu erzielen sowie möglichst viele Sekundärionen einzufangen und so die Empfindlichkeit des Gerätes zu steigern.
(Foto: Uwe Breuer, Zentralabteilung für Chemische Analysen, Forschungszentrum Jülich.)